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Daten / Datenbanken
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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8773-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-29408-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pavlov CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7855-1Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Pavlov / Sachdev CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design and Test2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8362-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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