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Technische Informatik

10  Treffer  für „Frontiers in Electronic Testing“
    Gizopoulos | Advances in Electronic Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Gizopoulos Advances in Electronic Testing

    Challenges and Methodologies
    2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4899-8773-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Gizopoulos | Advances in Electronic Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Gizopoulos Advances in Electronic Testing

    Challenges and Methodologies
    2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-387-29408-7
    Medium: Buch
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    Wunderlich | Models in Hardware Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Wunderlich Models in Hardware Testing

    Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
    2010
    Verlag: Springer Netherlands
    ISBN: 978-94-007-3093-9
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Wunderlich | Models in Hardware Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Wunderlich Models in Hardware Testing

    Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
    2010. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-90-481-3281-2
    Medium: Buch
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    Adams | High Performance Memory Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Adams High Performance Memory Testing

    Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7255-0
    Medium: Buch
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    Zilic / Radecka | Verification by Error Modeling | Buch | Sack Fachmedien

    Zilic / Radecka Verification by Error Modeling

    Using Testing Techniques in Hardware Verification
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7652-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Zilic / Radecka | Verification by Error Modeling | Buch | Sack Fachmedien

    Zilic / Radecka Verification by Error Modeling

    Using Testing Techniques in Hardware Verification
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-5402-2
    Medium: Buch
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    Sachdev / Pavlov | CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Buch | Sack Fachmedien

    Sachdev / Pavlov CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

    Process-Aware SRAM Design and Test
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer Netherlands
    ISBN: 978-90-481-7855-1
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Pavlov / Sachdev | CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Buch | Sack Fachmedien

    Pavlov / Sachdev CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

    Process-Aware Sram Design and Test
    2008. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4020-8362-4
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Formal Equivalence Checking and Design Debugging | Buch | Sack Fachmedien

    Formal Equivalence Checking and Design Debugging

    1998
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-7923-8184-6
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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