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EDV | Informatik
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Stein / Shi / Bijker Quality Aspects in Spatial Data Mining
1. Auflage 2008Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4200-6926-6Medium: Buch155,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Stein / Shi / Bijker Quality Aspects in Spatial Data Mining
Erscheinungsjahr 2010Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-4200-6927-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)92,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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