Ergebnisse filtern
-
- 4
-
- 1
- 1
- 1
- 1
-
- 4
- 4
- 1
- 1
- 2
- 2
- 2
-
- 3
- 1
-
- 4
-
- 4
-
- 4
-
- 4
Mathematik | Informatik
-
Bushnell / Agrawal Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: SpringerISBN: 978-1-4757-8142-7Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Bushnell / Agrawal Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: SpringerISBN: 978-0-7923-7991-1Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Chadradhar / Agrawal / Bushnell Neural Models and Algorithms for Digital Testing
1991. Auflage 1991Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-9165-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
-
Chadradhar / Agrawal / Bushnell Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Erscheinungsjahr 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-6767-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort
