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Puente León Messtechnik
Grundlagen, Methoden und Anwendungen11. Auflage 2019Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-59767-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark29,99 € (inkl. MwSt.)
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Puente León Reports on Distributed Measurement Systems
1. Auflage 2008Verlag: ShakerISBN: 978-3-8322-7270-8Medium: Buch49,80 € (inkl. MwSt.)
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Puente León Reports on industrial information technology
Erscheinungsjahr 2010Verlag: KIT Scientific PublishingISBN: 978-3-86644-490-4Medium: Buch35,00 € (inkl. MwSt.)
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Puente León Messtechnik
11. Auflage 2019Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-59766-8Medium: Buch37,99 € (inkl. MwSt.)
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Puente León Messtechnik
Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker10. Auflage 2015Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-44820-5Medium: Buch39,99 € (inkl. MwSt.)
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Puente León Messtechnik
10. Auflage 2015Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-44821-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark29,99 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Heizmann Forum Bildverarbeitung 2014
Erscheinungsjahr 2014Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-7315-0284-5Medium: Buch45,00 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Bauer Praxis der Digitalen Signalverarbeitung
Erscheinungsjahr 2017Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-7315-0651-5Medium: Buch35,00 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Kiencke Messtechnik
Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker8. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-20239-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark29,99 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Kiencke Messtechnik
Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker9. Auflage 2012. gründlich überarbeitete 2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-30074-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark29,99 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Bauer Praxis der Digitalen Signalverarbeitung
Erscheinungsjahr 2015Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-7315-0365-1Medium: Buch35,00 € (inkl. MwSt.)
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Lebelt / Puente León Übungsaufgaben zur Messtechnik und Sensorik
1. Auflage 2008Verlag: ShakerISBN: 978-3-8322-7110-7Medium: Buch19,80 € (inkl. MwSt.)
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Kiencke / Puente León Ereignisdiskrete Systeme
Modellierung und Steuerung verteilter Systemevollständig überarbeitete und ergänzte AuflageVerlag: De GruyterISBN: 978-3-486-73574-1Medium: Buch49,95 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Jäkel Signale und Systeme
7. erweiterte Auflage 2019Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-062632-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark79,95 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Kiencke Ereignisdiskrete Systeme
Modellierung und Steuerung verteilter Systeme2. überarbeitete und erweiterte Aufl 2009Verlag: De GruyterISBN: 978-3-486-59342-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark34,95 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Jäkel Signale und Systeme
7. erweiterte Auflage 2019Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-062637-7Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark79,95 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Beyerer XXV. Messtechnisches Symposium
des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V. 22.-24. September 2011 in Karlsruhe1. Auflage 2011Verlag: ShakerISBN: 978-3-8440-0388-8Medium: Buch49,80 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Kiencke Ereignisdiskrete Systeme
Modellierung und Steuerung verteilter Systemevollständig überarbeitete und ergänzte AuflageVerlag: De GruyterISBN: 978-3-486-76971-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark49,95 € (inkl. MwSt.)
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Jäkel / Puente León Signale und Systeme
7. überarbeitete Auflage 2019Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-062631-5Medium: Buch69,95 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Heizmann Forum Bildverarbeitung 2012
Erscheinungsjahr 2014Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-86644-927-5Medium: Buch58,00 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Frese Automatische Sichtprüfung
Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-23966-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark66,99 € (inkl. MwSt.)
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Heizmann / Längle / Puente León Forum Bildverarbeitung 2016
Erscheinungsjahr 2016Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-7315-0587-7Medium: Buch53,00 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Kiencke / Jäkel Signale und Systeme
überarbeitete AuflageVerlag: De GruyterISBN: 978-3-486-70797-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark34,95 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Frese / Puente León Machine Vision
Automated Visual Inspection: Theory, Practice and ApplicationsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-50818-3Medium: Buch165,84 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Heizmann / Forum Bildverarbeitung <2010 Forum Bildverarbeitung
Erscheinungsjahr 2014Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-86644-578-9Medium: Buch48,00 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Frese Machine Vision
Automated Visual Inspection: Theory, Practice and Applications1. Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-47794-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark160,49 € (inkl. MwSt.)
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Längle / Puente León / Heizmann Forum Bildverarbeitung 2018
Erscheinungsjahr 2018Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-7315-0833-5Medium: Buch57,00 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Jäkel / Kiencke Signale und Systeme
6. überarbeitete Aufl 2015Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-042383-9Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark39,95 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Beyerer / Längle OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
Erscheinungsjahr 2014Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-86644-965-7Medium: Buch52,00 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Frese / Puente León Machine Vision
Automated Visual Inspection: Theory, Practice and Applications1. Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-47793-9Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Längle OCM 2019 - Optical Characterization of Materials : Conference Proceedings
Erscheinungsjahr 2019Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-7315-0864-9Medium: Buch39,00 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Jäkel / Kiencke Signale und Systeme
6. überarbeitete Aufl 2015Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-040386-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark39,95 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Längle OCM 2017 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
Erscheinungsjahr 2017Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-7315-0612-6Medium: Buch47,00 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Frese Automatische Sichtprüfung
Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung2. Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-47786-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark89,99 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Frese Automatische Sichtprüfung
Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung2., erweiterte und verbesserte Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-47785-4Medium: Buch109,99 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Sommer Informationsfusion in der Mess- und Sensortechnik
Erscheinungsjahr 2006Verlag: KIT Scientific PublishingISBN: 978-3-86644-053-1Medium: Buch42,90 € (inkl. MwSt.)
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Puente León / Sommer / Expertenforum Verteilte Messsysteme <2010 Verteilte Messsysteme
Erscheinungsjahr 2014Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-86644-476-8Medium: Buch37,50 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Längle OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
Erscheinungsjahr 2015Verlag: Karlsruher Institut für TechnologieISBN: 978-3-7315-0318-7Medium: Buch52,00 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Frese Automatische Sichtprüfung
Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung3. Auflage 2024Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-69951-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark59,99 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Meyer / Puente León Automatische Sichtprüfung
Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung3. Auflage 2024Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-69950-8Medium: Buch74,99 € (inkl. MwSt.)
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