Nicksch | Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme in rekonfigurierbaren Montageumgebungen | Buch | 978-3-98555-152-1 | www.sack.de

Buch, Deutsch, 204 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 303 g

Reihe: Edition Wissenschaft Apprimus

Nicksch

Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme in rekonfigurierbaren Montageumgebungen


1. Auflage 2023
ISBN: 978-3-98555-152-1
Verlag: Apprimus Verlag

Buch, Deutsch, 204 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 303 g

Reihe: Edition Wissenschaft Apprimus

ISBN: 978-3-98555-152-1
Verlag: Apprimus Verlag

Die Montage von Großbauteilen erfordert dein Einsatz verteilter Large-Scale Metrology Systeme, um Montagetoleranzen im Submillimeterbereich prüfen zu können. In der Forschungsarbeit wird ein Optimierungsalgorithmus zur Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme für Anwendungen in der Großbauteilmontage entwickelt. Hierbei wird die Messunsicherheit als Zielgröße der Optimierung verwendet, um die Prozessfähigkeit des Messprozesses mittels einer Simulation a-priori bestimmen zu können.

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Autoren/Hrsg.

Nicksch, Christoph
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