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Bahukudumbi / Chakrabarty | Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits | Buch | 978-1-59693-989-9 | www.sack.de

Buch, Englisch, 210 Seiten, Format (B × H): 235 mm x 164 mm, Gewicht: 434 g

Bahukudumbi / Chakrabarty

Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits


Unabridged ed
ISBN: 978-1-59693-989-9
Verlag: Artech House Publishers

Buch, Englisch, 210 Seiten, Format (B × H): 235 mm x 164 mm, Gewicht: 434 g

ISBN: 978-1-59693-989-9
Verlag: Artech House Publishers

Bahukudumbi / Chakrabarty Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Bahukudumbi, Sudarshan
Chakrabarty, Krishnendu
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