Runs and Scans with Applications

1. Auflage 2001
ISBN: 978-0-471-24892-7
Verlag: Wiley

Buch, Englisch, 488 Seiten, Format (B × H): 161 mm x 240 mm, Gewicht: 886 g

Dieser Band führt anhand vieler Beispiele aus Naturwissenschaft und Technik in spezielle Kapitel der Zuverlässigkeitsanalyse ein. Theoretische Ausführungen werden anschaulich mit praktischen Anwendungen, meist aus der Industrie, verknüpft, um den Leser zur tiefgründigen Einarbeitung in die Konzepte zu motivieren. Erläutert werden auch relevante Näherungen und Randwertsätze.

Autoren/Hrsg.

Balakrishnan, Narayanaswamy

Koutras, Markos V

Fachgebiete

• Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Produktionstechnik Zuverlässigkeitstechnik
• Mathematik | Informatik Mathematik Stochastik Wahrscheinlichkeitsrechnung
• Mathematik | Informatik Mathematik Stochastik Mathematische Statistik

Inhaltsverzeichnis

List of Tables.

List of Figures.

Preface.

Introduction and Historical Remarks.

Waiting for the First Run Occurrence.

Applications.

Waiting for Multiple Run Occurrences.

Number of Run Occurrences.

Sooner/Later Run Occurrences.

Multivariate Run-Related Distributions.

Applications.

Waiting for the First Scan.

Waiting for Multiple Scans.

Number of Scan Occurrences.

Applications.

Bibliography.

Author Index.

Subject Index.

Über Autor(innen)

N. BALAKRISHNAN, PhD, is Professor of Mathematics and Statistics at McMaster University in Hamilton, Ontario, Canada. He is also the author of A First Course in Order Statistics and four volumes of the Distributions in Statistics series (all from Wiley).

MARKOS V. KOUTRAS, PhD, is Professor of Statistics at the University of Piraeus in Greece, where he researches applied probability, reliability, and distribution theory.