Basu / Singh | Neutron and X-ray Reflectometry | Buch | 978-0-7503-4693-1 | www.sack.de

Buch, Englisch, 200 Seiten, Format (B × H): 178 mm x 254 mm, Gewicht: 535 g

Basu / Singh

Neutron and X-ray Reflectometry

Emerging phenomena at heterostructure interfaces
Erscheinungsjahr 2022
ISBN: 978-0-7503-4693-1
Verlag: IOP Publishing Ltd

Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Buch, Englisch, 200 Seiten, Format (B × H): 178 mm x 254 mm, Gewicht: 535 g

ISBN: 978-0-7503-4693-1
Verlag: IOP Publishing Ltd

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Autoren/Hrsg.

Basu, Saibal
Singh, Surendra
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