Berndt | ESD-Schutz | Buch | 978-3-8169-2942-0 | www.sack.de

Buch, Deutsch, Band 675, 257 Seiten, Lesebändchen, Format (B × H): 149 mm x 210 mm, Gewicht: 452 g

Reihe: Kontakt & Studium

Berndt

ESD-Schutz

Normen, Konzepte und Messtechnik in der Praxis
2. neu bearbeitete Auflage 2009
ISBN: 978-3-8169-2942-0
Verlag: Expert-Verlag GmbH

Normen, Konzepte und Messtechnik in der Praxis

Buch, Deutsch, Band 675, 257 Seiten, Lesebändchen, Format (B × H): 149 mm x 210 mm, Gewicht: 452 g

Reihe: Kontakt & Studium

ISBN: 978-3-8169-2942-0
Verlag: Expert-Verlag GmbH


Das Buch behandelt die Anforderungen an ein 'ESD Control System' zum Schutz elektronischer Bauelemente und Baugruppen vor den Schäden durch elektrostatische Entladungen und Felder. Ausgehend von den Gefährdungsmodellen werden Lösungsvarianten beschrieben. Der Leser wird dazu befähigt, die Einrichtung von 'ESD-Bereichen' vorzubereiten, zu verwirklichen und zu überwachen. Schwerpunkt ist dabei die praktische Umsetzbarkeit des 'ESD Control Systems'. Auch die Anforderungen aus den gültigen Normen DIN EN 61340-5-1 und DIN EN 61340-5-2 sowie ANSI/ESD S20.20-2007 werden behandelt. Vergleiche beider Normenwerke dienen der praktischen Anwendung in einem ESD-Bereich. Normgerechte Messverfahren, ihre praktische Umsetzung und die Erfahrungen, die sich daraus ergeben, kommen ebenfalls zur Sprache. Inhalt: – ESD Normen (DIN EN 61340-5-1 und DIN EN 61340-5-2, ANSI ESD S20.20) – ESD Control Plan – Anforderungen an 'ESD Control' Maßnahmen und Ausführungen – Messtechnik, Grundlagen und praktische Erfahrungen

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Zielgruppe


Fach- und Führungskräfte in Arbeitsvorbereitung, Fertigung und Qualitätsmanagement


Autoren/Hrsg.


Weitere Infos & Material


ESD Normen (DIN EN 61340-5-1 und DIN EN 61340-5-2, ANSI ESD S20.20) – ESD Control Plan – Anforderungen an 'ESD Control' Maßnahmen und Ausführungen – Messtechnik, Grundlagen und praktische Erfahrungen


Der Autor hat nach seinem Studium (Fachrichtung: Semiconductor Technology) einige Jahre bei einem Halbleiterhersteller gearbeitet. Dabei war er für die Untersuchung von 'unbekannten' Ausfällen an ICs verantwortlich. Er verfügt über eine mehr als 20jäh



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