Buch, Englisch, 260 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 423 g
Buch, Englisch, 260 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 423 g
Reihe: Nato Security through Science Series B:
ISBN: 978-1-4020-5619-2
Verlag: Springer Netherlands
This volume brings together many of the world's leading experts in the development of new imaging methodologies to detect, identify, and counter security threats to society. It covers three broadly defined but interrelated areas: the mathematics and computer science of automatic detection and identification; image processing techniques for radar and sonar; and detection of anomalies in biomedical and chemical images.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Physik, Chemie für Ingenieure
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Informatik Bildsignalverarbeitung
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Nachrichten- und Kommunikationstechnik
- Naturwissenschaften Physik Physik Allgemein Experimentalphysik
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Programmierung | Softwareentwicklung Grafikprogrammierung
- Technische Wissenschaften Sonstige Technologien | Angewandte Technik Angewandte Optik
- Sozialwissenschaften Politikwissenschaft Militärwesen Nationale und Internationale Sicherheits- und Verteidigungspolitik
- Technische Wissenschaften Sonstige Technologien | Angewandte Technik Signalverarbeitung, Bildverarbeitung, Scanning
Weitere Infos & Material
MULTI-PERSPECTIVE IMAGING AND IMAGE INTERPRETATION.- RADAR IMAGING FOR COMBATTING TERRORISM.- OPTICAL SIGNATURES OF BURIED MINES.- CHEMICAL IMAGES OF LIQUIDS.- SEQUENTIAL DETECTION ESTIMATION AND NOISE CANCELATION.- IMAGE FUSION: A POWERFUL TOOL FOR OBJECT IDENTIFICATION.- NONLINEAR STATISTICAL SIGNAL PROCESSING: A PARTICLE FILTERING APPROACH.- POSSIBILITIES FOR QUANTUM INFORMATION PROCESSING.- MULTIFRACTAL ANALYSIS OF IMAGES: NEW CONNEXIONS BETWEEN ANALYSIS AND GEOMETRY.- CHARACTERIZATION AND CONSTRUCTION OF IDEAL WAVEFORMS.- IDENTIFICATION OF COMPLEX PROCESSES BASED ON ANALYSIS OF PHASE SPACE STRUCTURES.- TIME-RESOLVED LUMINESCENCE IMAGING AND APPLICATIONS.- SPECTRUM SLIDING ANALYSIS.
