Liebe Besucherinnen und Besucher,
aufgrund unseres Sommerfestes sind wir am 03. September 2026 bis 14 Uhr erreichbar. Am 04. September 2026 sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Vielen Dank für Ihr Verständnis.
Ihr Team von Sack Fachmedien
Buch, Englisch, 237 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 565 g
ISBN: 978-3-030-41535-8
Verlag: Springer
This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm. The low time impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations. The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population. In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Energietechnik | Elektrotechnik Elektrotechnik
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Bauelemente, Schaltkreise
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Informatik Mensch-Maschine-Interaktion Ambient Intelligence, RFID, Internet der Dinge
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Nachrichten- und Kommunikationstechnik
Weitere Infos & Material
Introduction.- Analog IC Sizing Background.- Yield Estimation Techniques Related Work.- Monte Carlo-Based Yield Estimation New Methodology.- AIDA-C Variation-Aware Circuit Synthesis Tool.- Tests & Results.- Conclusion and Future Work.- Index.




