Buch, Englisch, 168 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 306 g
Buch, Englisch, 168 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 306 g
Reihe: Frontiers in Electronic Testing
ISBN: 978-1-4419-4887-8
Verlag: Springer US
This pioneering text explains how to synthesize digital diagnostic sequences for wire interconnects using boundary-scan, and how to assess the quality of those sequences. It takes a new approach, carefully modelling circuit and interconnect faults, and applying graph techniques to solve problems.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Bauelemente, Schaltkreise
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Mikroprozessoren
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Elektronische Baugruppen, Elektronische Materialien
Weitere Infos & Material
Interconnect Circuit and Fault Models.- Behavioral Interconnect Diagnosis.- Structural Interconnect Diagnosis.- Diagnostic Resolution Assessment.- Experimental Results.- Conclusion.




