Cloud | Optical Methods of Engineering Analysis | Buch | 978-0-521-45087-4 | www.sack.de

Buch, Englisch, 517 Seiten, Format (B × H): 186 mm x 261 mm, Gewicht: 1315 g

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Optical Methods of Engineering Analysis


Erscheinungsjahr 1995
ISBN: 978-0-521-45087-4
Verlag: Cambridge University Press

Buch, Englisch, 517 Seiten, Format (B × H): 186 mm x 261 mm, Gewicht: 1315 g

ISBN: 978-0-521-45087-4
Verlag: Cambridge University Press


Fundamental measurement problems in engineering, mechanics, manufacturing, and physics are now being solved by powerful optical methods. This book presents a lucid, up-to-date discussion of these optical methods. Beginning from a firm base in modern optics, the book proceeds through relevant theory of interference and diffraction and integrates this theory with descriptions of laboratory techniques and apparatus. Among the techniques discussed are classical interferometry, photoelasticity, geometric moire, spatial filtering, moire interferometry, holography, holographic interferometry, laser speckle interferometry, and video-based speckle methods. By providing a firm base in the physical principles and at the same time allowing the reader to perform meaningful experiments related to the topic being studied, the book offers a unique user-oriented approach that will appeal to students, researchers and practising engineers.

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Weitere Infos & Material


Introduction; 1. Light and interference; 2. Classical interferometry; 3. Photoelasticity theory; 4. Basic applied photoelasticity; 5. Photoelasticity methods and applications; 6. Geometrical moire theory; 7. In-plane motion and strain measurement; 8. Moire mapping of slope, contour and displacement; 9. Diffraction and Fourier optics; 10. Moire with diffraction and Fourier optical processing; 11. Procedures of moire analysis with optical processing; 12. Principles of moire interferometry; 13. A moire interferometer; 14. Experimental methods in moire interferometry; 15. Holographic interferometry theory; 16. Holographic interferometry methods; 17. Laser speckle and combinations of speckle fields; 18. Speckle photography; 19. Speckle correlation interferometry; 20. Electronic speckle pattern interferometry; 21. Phase shifting to improve interferometry.



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