Cowley | Volume 2 | Buch | 978-0-19-855733-3 | www.sack.de

Buch, Englisch, 434 Seiten, Print PDF, Format (B × H): 160 mm x 240 mm, Gewicht: 816 g

Cowley

Volume 2


Erscheinungsjahr 1993
ISBN: 978-0-19-855733-3
Verlag: Oxford University Press

Buch, Englisch, 434 Seiten, Print PDF, Format (B × H): 160 mm x 240 mm, Gewicht: 816 g

ISBN: 978-0-19-855733-3
Verlag: Oxford University Press

Volume 2 deals with those aspects when there is a stronger correlation of the diffraction phenomena with the electron microscope imaging.

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Autoren/Hrsg.

Cowley, John M.

Fachgebiete

Weitere Infos & Material

S. Amelinckx & D. van Dyck: EM imaging and diffraction contrast; K. Yagi: Rheed and REM; J. Gjønnes: Disorder and defect scattering; S. Amelinckx & D. van Dyck: Electron diffraction effects due to modulated structures; M. Carr & C. Lyman: Identifications of unknowns; Index.

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