Dahoo / Pougnet | Applications et métrologie à l'échelle nanométrique 2 | Buch | 978-1-78405-794-7 | www.sack.de

Buch, Französisch, 232 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 456 g

Reihe: Iste Editions

Dahoo / Pougnet

Applications et métrologie à l'échelle nanométrique 2

systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
Erscheinungsjahr 2021
ISBN: 978-1-78405-794-7
Verlag: Iste Editions - IPSUK

systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Buch, Französisch, 232 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 456 g

Reihe: Iste Editions

ISBN: 978-1-78405-794-7
Verlag: Iste Editions - IPSUK

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Autoren/Hrsg.

Dahoo, Pierre Richard
Pougnet, Philippe
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