Liebe Besucherinnen und Besucher,
aufgrund unseres Sommerfestes sind wir am 03. September 2026 bis 14 Uhr erreichbar. Am 04. September 2026 sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Vielen Dank für Ihr Verständnis.
Ihr Team von Sack Fachmedien
Volume 1 - Basic and Advanced Devices
Buch, Englisch, 211 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 5022 g
ISBN: 978-3-319-15289-9
Verlag: Springer
This book describes the basic technologies and operation principles of charge-trapping non-volatile memories. The authors explain the device physics of each device architecture and provide a concrete description of the materials involved as well as the fundamental properties of the technology. Modern material properties used as charge-trapping layers, for new applications are introduced.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Elektronik, Optik
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Biomaterialien, Nanomaterialien, Kohlenstoff
Weitere Infos & Material
Preface.- Introduction to NVM devices.- A synopsis on the state of the art of NAND memories.- Charge-trap memories with ion beam modified ONO stacks.- 3D NAND Flash Architectures.- Quantum dot Nonvolatile Memories.- Two-Terminal Organic Memories with Metal or Semiconductor Nanoparticles.




