Buch, Deutsch, 206 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 341 g
Reihe: FZI-Berichte Informatik
Buch, Deutsch, 206 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 341 g
Reihe: FZI-Berichte Informatik
ISBN: 978-3-540-55661-9
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Hochkomplexe elektronische Schaltungen werden in immer mehr
Bereichen der Technik eingesetzt, in denen es auf eine hohe
Zuverl{ssigkeit ankommt, wie z.B. der Medizin und der
Verkehrstechnik. Eine effiziente ]berpr}fung dieser
Schaltungen, m glichst in Form eines "Selbsttests", ist
deshalb von entscheidender Bedeutung.
Das Buch beschreibt zun{chst Verfahren f}r den
automatisierten Entwurf und den Test hochintegrierter
Schaltungen und f}hrt dann beide Themengebiete zu einer
einheitlichen Entwurfsmethodik zusammen. Der Test - als
externer Test mit Hilfe von Pr}fpfaden oder als Selbsttest -
wird damit zu einem organischen Bestandteil des Entwurfs.
Die Zuverl{ssigkeit von Schaltungen kann so mit erheblich
geringeren Mehrkosten als bisher gesteigert werden.
Das Buch spricht neben Fachleuten f}r Entwurfswerkzeuge vor
allem Entwickler hochintegrierter Schaltungen an. Der Autor
wurde f}r diese Arbeit mit dem VMI-Preis 1991 des Verbands
der Metallindustrie Baden-W}rttemberg ausgezeichnet.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
1 Einleitung.- 1.1 Motivation.- 1.2 Ziel der Arbeit.- 1.3 Aufbau der Arbeit.- 2 Synthese und Test hochintegrierter Steuerwerke.- 2.1 Steuerwerksentwurf.- 2.2 Testmethoden.- 2.3 Entwurfsmaßnahmen zur Verbesserung der Testbarkeit.- 2.4 Stand der Technik.- 3 Testfreundliche Steuerwerksstrukturen.- 3.1 Grundprinzipien testfreundlicher Steuerwerke.- 3.2 Integration von Selbsttestregistern.- 3.3 Integration von Prüfpfaden.- 4 Zustandscodierung für testfreundliche Steuerwerke.- 4.1 Anforderungen an die Zustandscodierung.- 4.2 Optimale Zustandscodierung.- 4.3 Übersicht über konventionelle Codierungsverfahren.- 4.4 Codierungsverfahren für testfreundliche Strukturen.- 5 Steuerwerke mit integrierten Selbsttestregistern.- 5.1 Einbeziehung von Testmustergeneratoren in die Synthese.- 5.2 Einbeziehung von Signaturregistern in die Synthese.- 5.3 Synthese von Steuerwerken mit parallelem Selbsttest.- 5.4 Bewertung der vorgestellten Verfahren.- 6 Steuerwerke mit integriertem Prüf pfad.- 6.1 Einbeziehung von Prüfpfaden in die Synthese.- 6.2 Schaltwerke mit „emuliertem Prüfpfad “.- 7 Zusammenfassung und Ausblick.- 7.1 Erzielte Ergebnisse.- 7.2 Weiterführende Arbeiten.- A.1 Einfluß der Zustandscodierung auf die Steuerwerksgröße.- A.2 Implementierungen testfreundlicher „Boundary Scan “-Steuerwerke.- A.2.1 Konventioneller Selbsttest.- A.2.2 Paralleler Selbsttest.- A.2.3 Konventioneller Prüfpfad.- A.2.4 Nutzung des Prüfpfades im Systembetrieb.- A.2.5 Emulierter Prüfpfad.- A.3 Abschätzung der Fläche von PLA-Steuerwerken.- Verwendete Formelzeichen, Indizes und Abkürzungen.
