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Mathematik | Informatik
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Yin / Zhou / Chai Data-Driven Fault Diagnosis for Complex Industrial Processes
Towards Fault Prediction, Detection and IdentificationErscheinungsjahr 2025Verlag: SpringerISBN: 978-981-963152-0Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Tan / Shi / Chai Advances in Swarm Intelligence, Part II
Second International Conference, ICSI 2011, Chongqing, China, June 12-15, 2011, Proceedings, Part II1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-21523-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Tan / Shi / Chai Advances in Swarm Intelligence, Part I
Second International Conference, ICSI 2011, Chongqing, China, June 12-15, 2011, Proceedings, Part I1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-21514-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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