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Mathematik | Informatik

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    Fu | Pattern Recognition and Machine Learning | Buch | Sack Fachmedien

    Fu Pattern Recognition and Machine Learning

    Proceedings of the Japan-U.S. Seminar on the Learning Process in Control Systems, held in Nagoya, Japan August 18-20, 1970
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1971
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4615-7568-9
    Medium: Buch
    128,39 € (inkl. MwSt.)
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