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Mathematik | Informatik

2  Treffer  für „Shin, Youngsoo“


    Shin / Tsui / Kim VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power

    23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers
    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-46096-3
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Shin / Tsui / Kim VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power

    23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-83440-5
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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