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Hack, Erwin

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Rastogi / Hack International Conference on Advanced Phase Measurement Methods in Optics and Imaging

1. Auflage 2010

Verlag: AIP Press

ISBN: 978-0-7354-0783-1

Medium: Buch

234,33 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen

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