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Naturwissenschaften
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Leach Optical Measurement of Surface Topography
1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-12011-4Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Leach Optical Measurement of Surface Topography
2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-42684-1Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Carmignato / Dewulf / Leach Industrial X-Ray Computed Tomography
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-86653-6Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
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Carmignato / Dewulf / Leach Industrial X-Ray Computed Tomography
1. Auflage 2018Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-59571-9Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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