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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07991-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Alexe / Gruverman | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Alexe / Gruverman Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    1. Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-20662-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26912-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Gopalakrishnan / Narendar | Wave Propagation in Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Gopalakrishnan / Narendar Wave Propagation in Nanostructures

    Nonlocal Continuum Mechanics Formulations
    1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-01031-1
    Medium: Buch
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    Bulyarskiy / Saurov | Doping of Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Bulyarskiy / Saurov Doping of Carbon Nanotubes

    1. Auflage 2017
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-55882-0
    Medium: Buch
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    Morita / Giessibl / Meyer | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Giessibl / Meyer Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 3
    2015
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-15587-6
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Lorke / Winterer / Schmechel | Nanoparticles from the Gasphase | Buch | Sack Fachmedien

    Lorke / Winterer / Schmechel Nanoparticles from the Gasphase

    Formation, Structure, Properties
    Erscheinungsjahr 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-42729-9
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09869-7
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    2. Auflage 2017
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-59408-8
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Shchukin / Ledentsov / Bimberg | Epitaxy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Shchukin / Ledentsov / Bimberg Epitaxy of Nanostructures

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08735-6
    Medium: Buch
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07069-3
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Kawata | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Kawata Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07211-6
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09340-1
    Medium: Buch
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    Lorke / Winterer / Schmechel | Nanoparticles from the Gasphase | Buch | Sack Fachmedien

    Lorke / Winterer / Schmechel Nanoparticles from the Gasphase

    Formation, Structure, Properties
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-28545-5
    Medium: Buch
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1998
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-63815-5
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06596-5
    Medium: Buch
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-15614-5
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Aoki / S. Dresselhaus | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    Aoki / S. Dresselhaus Physics of Graphene

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-35252-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
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    Heiz / Landman | Nanocatalysis | Buch | Sack Fachmedien

    Heiz / Landman Nanocatalysis

    1. Auflage 2007. 2. printing 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74551-8
    Medium: Buch
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    Hlawacek / Gölzhäuser | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Hlawacek / Gölzhäuser Helium Ion Microscopy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-41988-6
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    1. Auflage 2010
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
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