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    Hlawacek / Gölzhäuser | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Hlawacek / Gölzhäuser Helium Ion Microscopy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-82473-4
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-87445-4
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    1. Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-46935-3
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Hu / Jiang / Chen | Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose | Buch | Sack Fachmedien

    Hu / Jiang / Chen Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose

    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-031-14042-6
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Landman / Heiz | Nanocatalysis | Buch | Sack Fachmedien

    Landman / Heiz Nanocatalysis

    1. Auflage 2007. 2. printing 2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74551-8
    Medium: Buch
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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09673-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Masuhara / Sasaki / Nakanishi | Single Organic Nanoparticles | Buch | Sack Fachmedien

    Masuhara / Sasaki / Nakanishi Single Organic Nanoparticles

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62429-2
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    1. Auflage 2010
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Hlawacek / Gölzhäuser | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Hlawacek / Gölzhäuser Helium Ion Microscopy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-41988-6
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Aoki / S. Dresselhaus | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    Aoki / S. Dresselhaus Physics of Graphene

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-35252-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Hosaka | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Hosaka Applied Scanning Probe Methods I

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-00527-8
    Medium: Buch
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    Chen / Zhang | Nanowelded Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Chen / Zhang Nanowelded Carbon Nanotubes

    From Field-Effect Transistors to Solar Microcells
    1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-01498-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Krahne / Manna / Morello | Physical Properties of Nanorods | Buch | Sack Fachmedien

    Krahne / Manna / Morello Physical Properties of Nanorods

    1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-36429-7
    Medium: Buch
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    Güçlü / Potasz / Korkusinski | Graphene Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Güçlü / Potasz / Korkusinski Graphene Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-52188-5
    Medium: Buch
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    Morita / Giessibl / Meyer | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Giessibl / Meyer Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 3
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-35876-5
    Medium: Buch
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-15611-4
    Medium: Buch
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-13653-6
    Medium: Buch
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    Hopster / Oepen | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Hopster / Oepen Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07286-4
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85036-6
    Medium: Buch
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