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Bhattacharya / Hayes Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Erscheinungsjahr 1989Verlag: Springer Nature B.V.ISBN: 978-0-7923-9058-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Bhattacharya / Hayes Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Erscheinungsjahr 2011Verlag: SpringerISBN: 978-1-4612-8819-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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