Ergebnisse filtern
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
Snyder / Bunge / Fiala Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
Erscheinungsjahr 2000Verlag: OUP OxfordISBN: 978-0-19-850189-3Medium: Buch446,30 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort