Liebe Besucherinnen und Besucher,
aufgrund unseres Sommerfestes sind wir am 03. September 2026 bis 14 Uhr erreichbar. Am 04. September 2026 sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Vielen Dank für Ihr Verständnis.
Ihr Team von Sack Fachmedien
Ergebnisse filtern
-
- 1
- 1
-
- 1
- 1
-
- 2
- 2
- 2
-
- 1
- 1
-
- 2
-
- 2
-
- 2
-
- 2
-
Im / Chang / Kim Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy
Probing the traps in field-effect transistors1. Auflage 2013Verlag: SpringerISBN: 978-94-007-6391-3Medium: Buch49,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Im / Chang / Kim Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy
Probing the traps in field-effect transistors1. Auflage 2014Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-94-007-6392-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark48,14 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort
