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Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
2011. Auflage 2010Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-6992-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
2011Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-2689-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
1. Auflage 2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-6993-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-6069-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
<em>Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2</em> 1998Verlag: SpringerISBN: 978-0-7923-8132-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2. Softcover version of original hardcover Auflage 1998Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-5033-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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