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Shen / Tan / Yu Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Erscheinungsjahr 2014Verlag: SpringerISBN: 978-1-4899-8787-7Medium: Buch119,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Shen / Tan / Yu Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
1. Auflage 2014Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-0788-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Shen / Tan / Yu Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4614-0787-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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