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Li / Yan / Liu Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach2023Verlag: SpringerISBN: 978-981-19-8550-8Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Li / Yan / Liu Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach1. Auflage 2023Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-981-19-8551-5Medium: eBookFormat: PDF
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Li / Yan / Liu Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach2023Verlag: SpringerISBN: 978-981-19-8553-9Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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