Ergebnisse filtern
-
- 78
- 19
-
- 38
- 9
- 5
- 3
- 42
-
- 4
- 93
-
- 97
-
- 97
-
- 97
-
Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4285-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46546-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Kunz / Stoffel Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques1997. Auflage 1997Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-9921-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
-
Kunz / Stoffel Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing TechniquesErscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-2572-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Sachdev Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-4926-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark85,59 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Kunz / Stoffel Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1997Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5176-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
Erscheinungsjahr 2002Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-7205-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
1. Auflage Softcover of orig. Auflage 2002Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-5307-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Radecka / Zilic Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-5402-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Radecka / Zilic Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-7652-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Huertas Sánchez / Vázquez García de la Vega / Rueda Rueda Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
1. Auflage 2007Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-5315-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Huertas Sánchez / Vázquez García de la Vega / Rueda Rueda Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7336-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Huertas Sánchez / Vázquez García de la Vega / Rueda Rueda Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-5314-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Stroud A Designer's Guide to Built-In Self-Test
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47504-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Stroud A Designer's Guide to Built-In Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-7626-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Stroud A Designer's Guide to Built-In Self-Test
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7050-1Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Sheppard / Simpson Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7535-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage 2008Verlag: Springer Nature B.V.ISBN: 978-1-4020-8362-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
-
Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7855-1Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Sheppard / Simpson Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8263-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-8363-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark160,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test StandardErscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-4499-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1. Auflage 1998Verlag: SpringerISBN: 978-0-7923-8184-6Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Gizopoulos / Paschalis / Zorian Embedded Processor-Based Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-5252-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Kabisatpathy / Barua / Sinha Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-3828-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort
