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Kastensmidt / Reis Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs
2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-31068-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Beenker / Bennetts / Thijssen Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test Approach1995Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9658-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Ocheretny / Sogomonyan New Methods of Concurrent Checking
2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8419-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1999Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5115-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails
1. Auflage Softcover of orig. Auflage 2005Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-3767-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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