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Maston / Taylor / Villar Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 14501. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-5089-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / Waayers / McLaurin The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(TM)2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8769-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7606-4Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-26351-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Khare / Maly From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and ApplicationsErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-1377-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-1329-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9714-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1999. Auflage 1999Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-8686-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Taylor / Villar Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 14501. Auflage 2003Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-7637-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1996Verlag: Springer USISBN: 978-1-4612-8571-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4513-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7798-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Garcia Gervacio / Champac Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-09239-9Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
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Zilic / Radecka Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7652-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Garcia Gervacio / Champac Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75464-2Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-30751-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-3207-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8669-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8291-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Cheung / Sousa Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2001Verlag: Springer USMedium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kastensmidt / Reis Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4052-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5391-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Iyengar / Chandra Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-5400-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and Jitter2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-31419-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-6107-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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