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    Jacak / Hawrylak / Wojs | Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Jacak / Hawrylak / Wojs Quantum Dots

    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-72004-8
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Wiesendanger / Meyer | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Meyer Noncontact Atomic Force Microscopy

    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62772-9
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs / Kawata | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Kawata Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-37315-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Kawata | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-37318-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Kawata | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07212-3
    Medium: Buch
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    Alexe / Gruverman | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Alexe / Gruverman Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05844-8
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06597-2
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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