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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09673-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Masuhara / Nakanishi / Sasaki | Single Organic Nanoparticles | Buch | Sack Fachmedien

    Masuhara / Nakanishi / Sasaki Single Organic Nanoparticles

    Erscheinungsjahr 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62429-2
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Aoki / S. Dresselhaus | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    Aoki / S. Dresselhaus Physics of Graphene

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-35252-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    1. Auflage 2010
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Giessibl / Wiesendanger | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Giessibl / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 2
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26070-4
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-34314-1
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Giessibl / Meyer | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Giessibl / Meyer Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 3
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-35876-5
    Medium: Buch
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    Gopalakrishnan / Narendar | Wave Propagation in Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Gopalakrishnan / Narendar Wave Propagation in Nanostructures

    Nonlocal Continuum Mechanics Formulations
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-37706-3
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-85038-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Li | Nanomaterials for Sustainable Energy | Buch | Sack Fachmedien

    Li Nanomaterials for Sustainable Energy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-32021-2
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-85036-6
    Medium: Buch
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    Fomin | Physics of Quantum Rings | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Fomin Physics of Quantum Rings

    Third Auflage 2025
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-031-85915-1
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Hopster / Oepen | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Hopster / Oepen Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07286-4
    Medium: Buch
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    Aoki / S. Dresselhaus | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    Aoki / S. Dresselhaus Physics of Graphene

    Erscheinungsjahr 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-02632-9
    Medium: Buch
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    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    2. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-59409-5
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-13653-6
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-15611-4
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Güçlü / Potasz / Korkusinski | Graphene Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Güçlü / Potasz / Korkusinski Graphene Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-52188-5
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Krahne / Manna / Morello | Physical Properties of Nanorods | Buch | Sack Fachmedien

    Krahne / Manna / Morello Physical Properties of Nanorods

    1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-36429-7
    Medium: Buch
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    Chen / Zhang | Nanowelded Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Chen / Zhang Nanowelded Carbon Nanotubes

    From Field-Effect Transistors to Solar Microcells
    1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-01498-7
    Medium: Buch
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    Macagnano / Zampetti / Kny | Electrospinning for High Performance Sensors | Buch | Sack Fachmedien

    Macagnano / Zampetti / Kny Electrospinning for High Performance Sensors

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-38178-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Hosaka | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Hosaka Applied Scanning Probe Methods I

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-00527-8
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Hosaka | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Hosaka Applied Scanning Probe Methods I

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05602-4
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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