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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07069-3
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Shchukin / Ledentsov / Bimberg | Epitaxy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Shchukin / Ledentsov / Bimberg Epitaxy of Nanostructures

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08735-6
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06596-5
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09340-1
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26912-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    2. Auflage 2017
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-59408-8
    Medium: Buch
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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07991-7
    Medium: Buch
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    Lorke / Winterer / Schmechel | Nanoparticles from the Gasphase | Buch | Sack Fachmedien

    Lorke / Winterer / Schmechel Nanoparticles from the Gasphase

    Formation, Structure, Properties
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-28545-5
    Medium: Buch
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    Lorke / Winterer / Schmechel | Nanoparticles from the Gasphase | Buch | Sack Fachmedien

    Lorke / Winterer / Schmechel Nanoparticles from the Gasphase

    Formation, Structure, Properties
    Erscheinungsjahr 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-42729-9
    Medium: Buch
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    Morita / Giessibl / Meyer | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Giessibl / Meyer Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 3
    2015
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-15587-6
    Medium: Buch
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    Morita / Giessibl / Wiesendanger | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Giessibl / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 2
    Erscheinungsjahr 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-01494-9
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
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    Alexe / Gruverman | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Alexe / Gruverman Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    1. Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-20662-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bulyarskiy / Saurov | Doping of Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Bulyarskiy / Saurov Doping of Carbon Nanotubes

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-85771-8
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Kawata | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Kawata Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-37315-5
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26909-0
    Medium: Buch
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    Bhushan / Kawata | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-37318-6
    Medium: Buch
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    Bhushan / Kawata | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07212-3
    Medium: Buch
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    Morita / Wiesendanger / Meyer | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Meyer Noncontact Atomic Force Microscopy

    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62772-9
    Medium: Buch
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    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    Softcover Nachdruck of the original 2. Auflage 2017
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-86618-5
    Medium: Buch
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-13656-7
    Medium: Buch
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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-77898-1
    Medium: Buch
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    Hu / Jiang / Chen | Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose | Buch | Sack Fachmedien

    Hu / Jiang / Chen Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose

    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-031-14045-7
    Medium: Buch
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    Chen / Zhang | Nanowelded Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Chen / Zhang Nanowelded Carbon Nanotubes

    From Field-Effect Transistors to Solar Microcells
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26020-9
    Medium: Buch
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    Sidorenko | Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics

    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-20157-8
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06597-2
    Medium: Buch
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