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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-13653-6
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-34314-1
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Hopster / Oepen | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Hopster / Oepen Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07286-4
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Güçlü / Potasz / Korkusinski | Graphene Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Güçlü / Potasz / Korkusinski Graphene Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-52188-5
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-85038-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-15611-4
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Hopster / Oepen | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Hopster / Oepen Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-40186-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Li | Nanomaterials for Sustainable Energy | Buch | Sack Fachmedien

    Li Nanomaterials for Sustainable Energy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-81178-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Hlawacek / Gölzhäuser | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Hlawacek / Gölzhäuser Helium Ion Microscopy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-82473-4
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Heiz / Landman | Nanocatalysis | Buch | Sack Fachmedien

    Heiz / Landman Nanocatalysis

    Erscheinungsjahr 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-32645-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Wiesendanger / Meyer | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Meyer Noncontact Atomic Force Microscopy

    1. Auflage 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-43117-6
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    1. Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-46935-3
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Sidorenko | Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics

    Erscheinungsjahr 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-27001-7
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06569-9
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Marinello / Passeri / Savio | Acoustic Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Marinello / Passeri / Savio Acoustic Scanning Probe Microscopy

    Erscheinungsjahr 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-43079-4
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09341-8
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-87445-4
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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