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Technische Wissenschaften
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Nicolici / Al-Hashimi Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5315-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Nicolici / Al-Hashimi Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7235-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Schmitz / Al-Hashimi / Eles System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
2004. Auflage 2003Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4020-7750-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Schmitz / Eles / Al-Hashimi System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5429-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Surampalli / Zhang / Al-Hashimi Microplastics in the Environment
Fate, Impacts, Removal, and Management1. Auflage 2025Verlag: WileyISBN: 978-1-394-25107-0Medium: Buch297,50 € (inkl. MwSt.)
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