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Technische Wissenschaften
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Goldstein / Newbury / Williams X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1995Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5738-4Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Goldstein / Newbury / Williams X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
1995Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-44858-4Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Goldstein / Joy / Romig Jr Principles of Analytical Electron Microscopy
1986Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-42387-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Goldstein / Joy / Romig Jr. Principles of Analytical Electron Microscopy
Erscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-1-4899-2039-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Echlin / Fiori / Goldstein Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Erscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-1-4757-9029-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Echlin / Fiori / Goldstein Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
1986Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-42140-2Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Goldstein / Newbury / Echlin Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists1981Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-3275-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Goldstein / Newbury / Joy Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Third Edition3rd Corrected 2003. Corr. 2. Printing 2007 AuflageVerlag: Springer UsISBN: 978-0-306-47292-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Goldstein / Newbury / Joy Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Third EditionThird Auflage 2003Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-4969-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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