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Technische Wissenschaften

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    Dai / Pecht / Ohadi | Optimum Cooling of Data Centers | Buch | Sack Fachmedien

    Dai / Pecht / Ohadi Optimum Cooling of Data Centers

    Application of Risk Assessment and Mitigation Techniques
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4939-4248-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Dai / Pecht / Ohadi | Optimum Cooling of Data Centers | Buch | Sack Fachmedien

    Dai / Pecht / Ohadi Optimum Cooling of Data Centers

    Application of Risk Assessment and Mitigation Techniques
    2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4614-5601-8
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Pecht | The Safety Challenges and Strategies of Using Lithium-Ion Batteries | Buch | Sack Fachmedien

    Pecht The Safety Challenges and Strategies of Using Lithium-Ion Batteries

    1. Auflage 2025
    Verlag: John Wiley & Sons
    ISBN: 978-1-394-34290-7
    Medium: Buch
    138,50 € (inkl. MwSt.)
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    Pecht | Prognostics and Health Management of Electronics | Buch | Sack Fachmedien

    Pecht Prognostics and Health Management of Electronics

    1. Auflage 2008
    Verlag: Wiley-Blackwell
    ISBN: 978-0-470-27802-4
    Medium: Buch
    169,50 € (inkl. MwSt.)
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    Pecht / Varde | Risk-Based Engineering | Buch | Sack Fachmedien

    Pecht / Varde Risk-Based Engineering

    An Integrated Approach to Complex Systems-Special Reference to Nuclear Plants
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer Nature Singapore
    ISBN: 978-981-13-0088-2
    Medium: Buch
    128,39 € (inkl. MwSt.)
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    Pecht / Varde | Risk-Based Engineering | Buch | Sack Fachmedien

    Pecht / Varde Risk-Based Engineering

    An Integrated Approach to Complex Systems-Special Reference to Nuclear Plants
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer Nature Singapore
    ISBN: 978-981-13-4327-8
    Medium: Buch
    90,94 € (inkl. MwSt.)
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    Zhang / Ardebili / Pecht | Encapsulation Technologies for Electronic Applications | Buch | Sack Fachmedien

    Zhang / Ardebili / Pecht Encapsulation Technologies for Electronic Applications

    2. Auflage 2018
    Verlag: Elsevier Science & Technology
    ISBN: 978-0-12-811978-5
    Medium: Buch
    222,50 € (inkl. MwSt.)
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    Lall / Pecht / Hakim | Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability | Buch | Sack Fachmedien

    Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability

    A Physics of Failure Approach
    1. Auflage 2019
    Verlag: CRC Press
    ISBN: 978-0-367-40097-2
    Medium: Buch
    60,60 € (inkl. MwSt.)
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