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Technische Wissenschaften

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    Dai / Ohadi / Das | Optimum Cooling of Data Centers | Buch | Sack Fachmedien

    Dai / Ohadi / Das Optimum Cooling of Data Centers

    Application of Risk Assessment and Mitigation Techniques
    1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4614-5601-8
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Dai / Ohadi / Das | Optimum Cooling of Data Centers | Buch | Sack Fachmedien

    Dai / Ohadi / Das Optimum Cooling of Data Centers

    Application of Risk Assessment and Mitigation Techniques
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4939-4248-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Pecht | The Safety Challenges and Strategies of Using Lithium-Ion Batteries | Buch | Sack Fachmedien

    Pecht The Safety Challenges and Strategies of Using Lithium-Ion Batteries

    1. Auflage 2025
    Verlag: John Wiley & Sons Inc
    ISBN: 978-1-394-34290-7
    Medium: Buch
    146,50 € (inkl. MwSt.)
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    Pecht | Prognostics and Health Management of Electronics | Buch | Sack Fachmedien

    Pecht Prognostics and Health Management of Electronics

    Erscheinungsjahr 2008
    Verlag: Wiley-Blackwell
    ISBN: 978-0-470-27802-4
    Medium: Buch
    169,50 € (inkl. MwSt.)
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    Pecht | China's Electronics Industry | Buch | Sack Fachmedien

    Pecht China's Electronics Industry

    The Definitive Guide for Companies and Policy Makers with Interest in China
    Erscheinungsjahr 2006
    Verlag: Elsevier Inc
    ISBN: 978-0-8155-1536-4
    Medium: Buch
    364,50 € (inkl. MwSt.)
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    Ardebili / Pecht | Encapsulation Technologies for Electronic Applications | Buch | Sack Fachmedien

    Ardebili / Pecht Encapsulation Technologies for Electronic Applications

    Erscheinungsjahr 2009
    Verlag: Elsevier Science
    ISBN: 978-0-8155-1576-0
    Medium: Buch
    218,50 € (inkl. MwSt.)
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    Kyeong / Pecht | Electrical Connectors | Buch | Sack Fachmedien

    Kyeong / Pecht Electrical Connectors

    Design, Manufacture, Test, and Selection
    1. Auflage 2021
    Verlag: Wiley
    ISBN: 978-1-119-67976-9
    Medium: Buch
    147,50 € (inkl. MwSt.)
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    Ganesan / Pecht | Lead-Free Electronics | Buch | Sack Fachmedien

    Ganesan / Pecht Lead-Free Electronics

    1. Auflage 2006
    Verlag: Wiley
    ISBN: 978-0-471-78617-7
    Medium: Buch
    176,50 € (inkl. MwSt.)
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    Varde / Pecht | Risk-Based Engineering | Buch | Sack Fachmedien

    Varde / Pecht Risk-Based Engineering

    An Integrated Approach to Complex Systems-Special Reference to Nuclear Plants
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-981-13-0088-2
    Medium: Buch
    139,09 € (inkl. MwSt.)
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    Kapur / Pecht | Reliability Engineering | Buch | Sack Fachmedien

    Kapur / Pecht Reliability Engineering

    1. Auflage 2014
    Verlag: Wiley
    ISBN: 978-1-118-14067-3
    Medium: Buch
    146,50 € (inkl. MwSt.)
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    Varde / Pecht | Risk-Based Engineering | Buch | Sack Fachmedien

    Varde / Pecht Risk-Based Engineering

    An Integrated Approach to Complex Systems-Special Reference to Nuclear Plants
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-981-13-4327-8
    Medium: Buch
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Ardebili / Zhang / Pecht | Encapsulation Technologies for Electronic Applications | Buch | Sack Fachmedien

    Ardebili / Zhang / Pecht Encapsulation Technologies for Electronic Applications

    2. Auflage 2018
    Verlag: Elsevier Inc
    ISBN: 978-0-12-811978-5
    Medium: Buch
    243,50 € (inkl. MwSt.)
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    Lall / Pecht / Hakim | Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability | Buch | Sack Fachmedien

    Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability

    A Physics of Failure Approach
    1. Auflage 2019
    Verlag: CRC Press
    ISBN: 978-0-367-40097-2
    Medium: Buch
    61,50 € (inkl. MwSt.)
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    Lall / Pecht / Hakim | Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability | Buch | Sack Fachmedien

    Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability

    A Physics of Failure Approach
    1. Auflage 1997
    Verlag: Taylor & Francis Inc
    ISBN: 978-0-8493-9450-8
    Medium: Buch
    169,50 € (inkl. MwSt.)
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