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Technische Wissenschaften
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Krinsley / Pye / Boggs, Jr Backscattered Scanning Electron Microscopy and Image Analysis of Sediments and Sedimentary Rocks
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-0-521-01974-3Medium: Buch69,40 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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