Ergebnisse filtern
Technische Wissenschaften
-
Breitenstein / Warta / Schubert Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and MaterialsThird Auflage 2018Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-99824-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort