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    Hopster / Oepen | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Hopster / Oepen Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-40186-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06569-9
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-87445-4
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    1. Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-46935-3
    Medium: Buch
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    Vogt / Le Lay | Silicene | Buch | Sack Fachmedien

    Vogt / Le Lay Silicene

    Prediction, Synthesis, Application
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-99962-3
    Medium: Buch
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Heiz / Landman | Nanocatalysis | Buch | Sack Fachmedien

    Heiz / Landman Nanocatalysis

    1. Auflage 2007. 2. printing 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74551-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Hlawacek / Gölzhäuser | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Hlawacek / Gölzhäuser Helium Ion Microscopy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-41988-6
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Hu / Jiang / Chen | Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose | Buch | Sack Fachmedien

    Hu / Jiang / Chen Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose

    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-031-14042-6
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    1. Auflage 2010
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Masuhara / Nakanishi / Sasaki | Single Organic Nanoparticles | Buch | Sack Fachmedien

    Masuhara / Nakanishi / Sasaki Single Organic Nanoparticles

    Erscheinungsjahr 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62429-2
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09673-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
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    Aoki / S. Dresselhaus | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    Aoki / S. Dresselhaus Physics of Graphene

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-35252-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs / Tomitori | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs / Tomitori Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
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