Hryb / Zhou / Wieczorowski | Advances in Manufacturing V | Buch | 978-3-032-23037-9 | www.sack.de

Buch, Englisch, 250 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 417 g

Reihe: Lecture Notes in Mechanical Engineering

Hryb / Zhou / Wieczorowski

Advances in Manufacturing V

Volume 4 - Measurement and Control Systems: Factory of the Future
Erscheinungsjahr 2026
ISBN: 978-3-032-23037-9
Verlag: Springer

Volume 4 - Measurement and Control Systems: Factory of the Future

Buch, Englisch, 250 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 417 g

Reihe: Lecture Notes in Mechanical Engineering

ISBN: 978-3-032-23037-9
Verlag: Springer


This book reports on innovative approaches in metrology and measurement systems, across different disciplines and fields of applications. It analyses the impact of digitalization, addressing challenges posed by Industry 4.0 and Industry 5.0. Chapters are based on peer-review contributions to the 9th International Scientific-Technical Conference MANUFACTURING 2026, held on May 19-21, 2026, in Poznan, Poland. They cover coordinate measuring systems, macro- and micro-scale measurements, characterization of geometry, roughness, and surface topography. Further topics include automation and robotization of control systems, metrological traceability, calibration, measurement uncertainty estimation, and attribute agreement analysis. With a special emphasis on sustainable procedures and human–machine collaboration, this book provides researchers, engineers, production managers, and educators with extensive information for advancing quality engineering in the next generation of manufacturing systems.

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Zielgruppe


Research

Weitere Infos & Material


Determinants and Challenges of Metrology 5.0.- Selection of factors affecting coordinate measurement uncertainty in the context of designing database solutions for uncertainty estimation.- Methodology for Assessing the Repeatability of Focal Positioning in Focus Variation Microscopy (FV).- Selected measurement problems related to illumination conditions in the application of the Focus Variation (FV) technique.



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