X-Ray Fluorescence Spectrometry

2. Revised Auflage 1999
ISBN: 978-0-471-29942-4
Verlag: Wiley

Buch, Englisch, 232 Seiten, Format (B × H): 157 mm x 235 mm, Gewicht: 529 g

Mit Hilfe der Röntgenfluoreszenzspektroskopie (XRF) erhält man "Fingerabdrücke" chemischer Substanzen. Die letzten Errungenschaften auf diesem Gebiet behandelt dieses Buch, in dessen Neuauflage auch Kapitel zur Geschichte der XRF, zum Aufbau von Röntgenspektrographen, zu Röntgenspektren und speziellen Anwendungen aufgenommen wurden. Durch den verständlichen Stil ist der Band für Neueinsteiger und erfahrene Fachleute gleichermaßen geeignet. (08/99)

Autoren/Hrsg.

Jenkins, Ron

Fachgebiete

• Interdisziplinäres Wissenschaften Wissenschaften: Forschung und Information Forschungsmethodik, Wissenschaftliche Ausstattung
• Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie Massenspektrometrie, Spektroskopie, Spektrochemie

Inhaltsverzeichnis

Production and Properties X-Rays.

Industrial Applications of X-Rays.

X-Ray Diffraction.

X-Ray Spectra.

History and Development of X-Ray Fluorescence Spectrometry.

Instrumentation for X-Ray Spectrometry.

Comparison of Wavelength and Energy Dispersive Spectrometers.

More Recent Trends in X-Ray Fluorescence Instrumentation.

Specimen Preparation and Presentation.

Use of X-Ray Spectrometry for Qualitative Analysis.

Considerations in Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis.

Quantitative Procedures in X-Ray Fluorescence Analysis.

Applications of X-Ray Methods.

Index.

Über Autor(innen)

RON JENKINS teaches at the Inter-national Centre for Diffraction Data.