Kang / Leblebici / Kim | CMOS Digital Integrated Circuits Analysis & Design | Buch | 978-0-07-338062-9 | www.sack.de

Buch, Englisch, 736 Seiten, Format (B × H): 192 mm x 238 mm, Gewicht: 1265 g

Reihe: Irwin Electronics & Computer Enginering

Kang / Leblebici / Kim

CMOS Digital Integrated Circuits Analysis & Design


4 ed
ISBN: 978-0-07-338062-9
Verlag: McGraw-Hill Education - Europe

Buch, Englisch, 736 Seiten, Format (B × H): 192 mm x 238 mm, Gewicht: 1265 g

Reihe: Irwin Electronics & Computer Enginering

ISBN: 978-0-07-338062-9
Verlag: McGraw-Hill Education - Europe


CMOS Digital Integrated Circuits: Analysis and Design continues the well-established tradition of the earlier editions by offering the most comprehensive coverage of digital CMOS circuit design, as well as addressing state-of-the-art technology issues highlighted by the widespread use of nanometer-scale CMOS technologies. In this latest edition, virtually, all chapters have been rewritten - the transistor model equations and device parameters have been revised to reflect the sigificant changes that must be taken into account for new technology generations, and the material has been reinforced with up-to-date examples. The broad-ranging coverage of this textbook starts with the fundamentals of CMOS process technology, and continues with MOS transistor models, basic CMOS gates, interconnect effects, dynamic circuits, memory circuits, arithmetic building blocks, clock and I/O circuits, low-power design techniques, design for manufacturability, and design for testability.

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Weitere Infos & Material


1) Introduction2) Fabrication of MOSFETS3) MOS Transistor4) Modeling of MOS Transistors Using SPICE5) MOS Inverters: Static Characteristics6) MOS Inverters: Switching Characteristics and Interconnect Effects7) Combinational MOS Logic Circuits8) Sequential MOS Logic Circuits9) Dynamic Logic Circuits10) Semiconductor Memories11) Low-Power CMOS Logic Circuits12) Arithmetic Building Blocks13) Chip Input and Output (I/O) Circuits14) Design for Manufacturability15) Design for Testability



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