Koenraad / Kemerink | Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques | Medienkombination | 978-0-7354-0168-6 | www.sack.de

Medienkombination, Englisch, Band 696, 179 Seiten, mit 1 CD-ROM, Format (B × H): 162 mm x 234 mm, Gewicht: 540 g

Reihe: AIP Conference Proceedings

Koenraad / Kemerink

Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques

12th International Conference, STM'03
1. Auflage 2004
ISBN: 978-0-7354-0168-6
Verlag: AIP Press

12th International Conference, STM'03

Medienkombination, Englisch, Band 696, 179 Seiten, mit 1 CD-ROM, Format (B × H): 162 mm x 234 mm, Gewicht: 540 g

Reihe: AIP Conference Proceedings

ISBN: 978-0-7354-0168-6
Verlag: AIP Press

At this conference the latest developments in the design, construction, and application of scanning probe microscopy like Scanning Tunneling Microscopy (STM), Atomic Force Microscopy (AFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) in the fields of nanotechnology, physics, chemistry, and biology were discussed.

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Zielgruppe

Professional/practitioner

Autoren/Hrsg.

Koenraad, P.M.
Kemerink, M.

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