Meehan / Purviance | Yield and Reliability in Microwave Circuit and System Design | Buch | 978-0-89006-527-3 | www.sack.de

Buch, Englisch, 300 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 611 g

Meehan / Purviance

Yield and Reliability in Microwave Circuit and System Design


Erscheinungsjahr 1993
ISBN: 978-0-89006-527-3
Verlag: Artech House

Buch, Englisch, 300 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 611 g

ISBN: 978-0-89006-527-3
Verlag: Artech House

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Autoren/Hrsg.

Meehan, Michael D.
Purviance, John
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