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Buch, Englisch, 459 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 1460 g
Buch, Englisch, 459 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 1460 g
ISBN: 978-1-4419-5346-9
Verlag: Springer Netherlands
The authors of this book's chapters are leaders in this revolution. They work on the front lines of research in government, industry, and universities, inventing yet more ways to harness the power of light for the generation of knowledge.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Physik, Chemie für Ingenieure
- Technische Wissenschaften Verfahrenstechnik | Chemieingenieurwesen | Biotechnologie Technologie der Kunststoffe und Polymere
- Naturwissenschaften Chemie Organische Chemie Polymerchemie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Polymerwerkstoffe
- Naturwissenschaften Physik Mechanik Klassische Mechanik, Newtonsche Mechanik
- Technische Wissenschaften Sonstige Technologien | Angewandte Technik Angewandte Optik
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffprüfung
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Optik
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
Weitere Infos & Material
1. Schlieren.- 2. Interferometric Flow Measurement.- 3. Digital Particle Image Velocimetry.- 4. Dynamic Flow Measurements Based on Molecular Rayleigh Scattering.- 5. Spray Diagnostics.- 6. Combustion Imaging Using Fluorescence and Elastic Scattering.- 7. Tunable Diode Laser Sensors for Combustion.- 8. Particulate Measurement Methods.- 9. Luminescent Paints for Pressure and Temperature Measurements.- 10. Pyrometry for Temperature Measurements.- 11. Surface Shear Stress Measurements.- 12. Fiber Grating Strain Sensors.- 13. Surface Deformation Measurements.- 14. Damage Detection Using Holography and Interferometry.




