Mostafa / Anis / Elmasry | Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits | Buch | 978-3-659-51361-9 | sack.de

Buch, Englisch, 296 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 459 g

Mostafa / Anis / Elmasry

Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits


Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Negative capacitance circuits

Buch, Englisch, 296 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 459 g

ISBN: 978-3-659-51361-9
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing

Mostafa / Anis / Elmasry Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Mostafa, Hassan
Anis, Mohab
Elmasry, Mohamed
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